Laboratorium Interferometrii Laserowej

Dane Kontaktowe

• • Kierownik laboratorium: dr Kazimierz Dworecki
  • Telefon kontaktowy: (41) 349 64 69; (41) 349 64 72
  • Adres mailowy: kazimierz.dworecki@ujk.edu.pl
  • Lokalizacja: Uniwersytet Jana Kochanowskiego w Kielcach, Instytut Fizyki, ul. Uniwersytecka 7, 25-406 Kielce

Opis badań

Prowadzone badania dotyczą procesów transportu substancji w układach membranowych. Występują tu takie zjawiska jak: dyfuzja, dyfuzja anomalna, grawidyfuzja, osmoza, grawiosmoza, odwrócona osmoza, konwekcja. Szczególne miejsce w tych poszukiwaniach, prowadzonych głównie przy zastosowaniu metod interferometrycznych zajmuje badanie wpływu siły ciążenia na stan tzw. przymembranowych warstw dyfuzyjnych. Badane są zmiany właściwości transportowych membran na skutek implantacji jonów. Realizowane są też badania biofizyczne, dotyczące fizycznych podstaw wymuszania translokacji wody w roślinach, zachodzącej na krótkich i długich dystansach. W szczególności zajmowano się wymianą wody przez komórki żywe, zachodzącą w warunkach zachowywania przez nie stałych objętości.

Zakres prowadzonych badań

• Badania biofizyczne dotyczące transportu substancji przez membrany
• Badania elipsometryczne procesów adsorpcji biomolekuł na powierzchni membran
• Pomiary charakterystyk warstw molekularnych (grubość, współczynnik załamania światła, stała dielektryczna)
• Elipsometryczne badania oddziaływań biomolekuł m.in. lipopolisacharydów z lekami, prowadzone w warunkach powierzchniowego rezonansu plazmonów

Oferta komercyjna

• Badanie przenikania farmaceutyków przez biofilmy bakteryjne
• Badania transferu substancji przez różnego rodzaju membrany, sztuczne i naturalne
• Określanie parametrów transportowych membran
• Badania uwalniania substancji z różnych ośrodków metodą interferometrii laserowej w fazie ciekłej i żelowej nieabsorbujacej światła
• Kompleksowe badania procesu dyfuzji substancji (wizualizacja, ewolucja warstw dyfuzyjnych i pola stężeniowego, gradienty i profile stężeń, współczynnik dyfuzji)
• Pomiary elipsometryczne parametrów optycznych (współczynnik załamania, stała dielektryczna) w zakresie spektralnym 280-850 nm i grubości warstw nanoszonych na podłoże stałe w skali nanometrowej

Baza aparaturowa:

• Elipsometr spektroskopowy Sentech SE800
• Interferometr laserowy
• System do akwizycji i analizy obrazów