Laboratorium Spektrometrii Rentgenowskiej

Dane Kontaktowe

• • Kierownik laboratorium: prof. dr hab. Janusz Braziewicz
  • Telefon kontaktowy: (41) 349 64 59, (41) 349 64 63
  • Adres mailowy: janusz.braziewicz@ujk.edu.pl
  • Lokalizacja: Uniwersytet Jana Kochanowskiego w Kielcach, Instytut Fizyki, ul. Uniwersytecka 7, 25-406 Kielce

Opis badań

Laboratorium Spektroskopii Rentgenowskiej ukierunkowane jest na wykorzystanie różnorodnych technik spektrometrii rentgenowskiej do badania mikro (10-6) i nano (10-9) koncentracji pierwiastków (metody XRF, TXRF, GEXRF) z uwzględnieniem ich rozkładu przestrzennego (metody μXRF, μXCT) ze zdolnością rozdzielczą rzędu 10 – 30 mikrometrów. Opisane metody znajdują zastosowanie w badaniu śladowych domieszek w materiałach ważnych technologicznie (półprzewodniki, scyntylatory), badaniu pierwiastków śladowych dla potrzeb medycyny (diagnostyka nowotworów) czy ochrony środowiska (zanieczyszczenia śladowe metalami ciężkimi). Badania z zakresu spektroskoprii rentgenowskiej prowadzone są we współpracy z Europejskim Źródłem Promieniowania Synchrotronowego (ESRF) w Grenoble, co umożliwia stosowanie najbardziej zaawansowanych metod badawczych w zagadnieniach z zakresu nanotechnologii.

Zakres prowadzonych badań

• Wykorzystanie metod rentgenowskiej analizy fluorescencyjnej (XRF, TXRF) w badaniach biomedycznych, głównie w celu określenia związków zachodzących między stanami chorobowymi a koncentracją pierwiastków śladowych w różnorodnych tkankach i płynach ustrojowych człowieka
• Zastosowanie spektroskopii rentgenowskiej w badaniu  koncentracji pierwiastków śladowych
• Badania oddziaływania promieniowania o wysokim, liniowym transferze energii, na jądra komórkowe

Oferta komercyjna

• Określanie składu pierwiastkowego próbek środowiskowych (woda, gleby, gliny, osady, zioła, minerały)
• Określanie składu pierwiastkowego próbek przemysłowych (pyły, ścieki, osady, cement, metale, leki)
• Określanie składu pierwiastkowego próbek biologicznych (kości, włosy, surowica)
• Jakościowa i ilościowa analiza fazowa, określanie struktury, badanie tekstury, odporności na ściskanie i rozciąganie, defektów i mikronaprężeń z wykorzystaniem metody XRD: metali i ich stopów, minerałów, polimerów, katalizatorów, plastików, farmaceutyków, materiałów cienkowarstwowych, ceramiki, półprzewodników, nanomateriałów
• Analiza pierwiastkowa próbek ciekłych (lub stałych po mineralizacji). Zakres pierwiastków Al – U, granica wykrywalności w zależności od pierwiastka i rodzaju próbki od kilku do kilkudziesięciu ppb. Tomograficzny obraz rentgenowski 3D próbek o rozmiarach do 3 cm (w zależności od gęstości próbki) z rozdzielczością od kilku do kilkudziesięciu  mikrometrów

Baza aparaturowa

• Reflektometr rentgenowski X’Pert Pro MPD Rentgenowski spektrometr dyfrakcyjny Inca Wave 700
• Spektrometr mikrowiązki rentgenowskiej XRF/GEXRF
• Tomograf rentgenowski Skyscan 1172
• Spektrometr rentgenowski Axios WDXRF
• enerator promieniowania rentgenowskiego 3830
• Automatyczny licznik kolonii SCAN 500